X射线荧光光谱法检测黄金饰品

X射线荧光光谱法具有快速、准确、测量范围宽、不破环样品等特点,非常适用于黄金饰品纯度无损检测的需要。

本方法对金饰品中银、铜、镍、锌等元素进行无损定量检测,告别传统的火试金等方法,能快速分析K金、彩金。
一、试验部分

1. 仪器设备

山东东仪X射线荧光光谱仪,联想计算机,和仪器配置的测试软件,高分辨率进口探测器、X射线管,

项目

成分

测定谱线

测量时间

备注

Au

La

20s

 

 

Dead time 控制在 40% 左右

Ag

Ka

20s

Cu

Ka

20s

Ni

Ka

20s

Zn

Ka

20s

测量条件如表1

 

2. 绘制标准曲线

用金饰品标准物质绘制校准曲线,在设定的测量条件下,测量标准物质,得到各成份的强度值,然后拟合线,存入软件中,以备检测未知金饰品的使用。

3. 测未知样品

开机后,待仪器调到工作状态。打开做好的程序,输入样品号,开始测量。测量完毕后,计算机自动计算出各成分的含量,各成分的含量值将自动存入数据库,以便存档、汇总、备查。

二、试验结果

准确度与精密度

选择三组不同含量的标准物质,分别对它们进行了10次重复测量。准确度以单次测量的误差E表示,精密度以相对标准偏差(RSD%)表示,统计结果如下表:

 

含量范围( %

准确度(%

精密度( RSD%

90

0.1

1

80-90

0.2

5

80

0.3

10

由表中数据可知,饰品的金含量越高,其测量的准确度、精密度越好,且各个含量段,均能满足对金饰品纯度检测的要求。